【英文标准名称】:Specification-Semi-enclosedelectricfuses(ratingsupto100amperesand240voltstoearth)
【原文标准名称】:半封闭式熔断器(额定电流100A及以下.接地电压240V)规范
【标准号】:BS3036-1958
【标准状态】:现行
【国别】:英国
【发布日期】:1958-10-23
【实施或试行日期】:1958-10-23
【发布单位】:英国标准学会(BSI)
【起草单位】:BSI
【标准类型】:()
【标准水平】:()
【中文主题词】:作标记;额定电流;熔断器;断路容量;定型试验;电缆;熔断体;电气试验
【英文主题词】:Breakingcapacity;Electriccables;Electricaltesting;Fuse-links;Fuses;Marking;Ratedcurrent;Typetesting
【摘要】:Sizesoffusecarriersandbasesforfuseswhereelementisreplaceablewire.Foruseina.c.circuits.Threecategoriesaccordingtoprospectivecurrentandtimeconstant.Foruseataltitudesnotexceeding2000mandtemperaturesaveraging35C.Selectionoffusesfordifferentapplications.
【中国标准分类号】:K31
【国际标准分类号】:29_120_50
【页数】:56P.;A4
【正文语种】:英语
基本信息
| 标准名称： | 硅衬底上绝缘体薄膜厚度及折射率的椭圆偏振测试方法 |
| 发布部门： | 中华人民共和国工业和信息化部 |
| 发布日期： | 2012-11-07 |
| 实施日期： | 2013-03-01 |
| 首发日期： | |
| 作废日期： | |
| 出版社： | 中国标准出版社 |
| 出版日期： | 2013-03-01 |
适用范围
本方法规定了用椭圆偏振测试方法测量生长或沉积在硅衬底上的绝缘体薄膜厚度及折射率的方法。
本方法适用于薄膜对测试波长没有吸收和衬底对测试波长处不透光、且已知测试波长处衬底折射率和消光系数的绝缘体薄膜厚度及折射率的测量。对于非绝缘体薄膜，满足一定条件时,方可采用本方法。
前言
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引用标准
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所属分类： 能源 核技术 能源 核技术综合 技术管理 能源和热传导工程 能源和热传导工程综合
【英文标准名称】:Computerintegratedmanufacturing(CIM):CIMsystemsarchitectureframeworkformodelling
【原文标准名称】:计算机集成制造(CIM):CIM建模系统结构框架
【标准号】:BSDD194-1990
【标准状态】:作废
【国别】:英国
【发布日期】:1990-11-30
【实施或试行日期】:1990-11-30
【发布单位】:英国标准学会(GB-BSI)
【起草单位】:BSI
【标准类型】:()
【标准水平】:()
【中文主题词】:计算机应用;加工工程;建筑设计;电子数据处理;数据处理;信息处理;计算机集成制造;生产
【英文主题词】:Architecturaldesign;CIM;Computerapplications;Computerintegratedmanufacturing;Dataprocessing;EDP;Informationprocessing;Production;Productionengineering
【摘要】:ThisEuropeanPreStandard(ENV)providesastandardforaframework,whichwillserveasacommonbasisforidentifyingandcoordinatingstandardsdevelopmentforcomputer-basedmodellingofenterprises,focusingonDiscretePartsManufacturing.Modelsgeneratedusingthisframeworkwillbeultimatelycomputerexecutableandenablethedailyoperationsofanenterprisepossiblytoberun,monitoredandcontrolledbysuchmodels.
【中国标准分类号】:L67
【国际标准分类号】:35_240_50
【页数】:32P.;A4
【正文语种】:英语